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單光束紫外可見分光光度計和雙光束紫外分光光度計的區(qū)別
1.    單光束儀器
單光束儀器只有一條光路，在各個波長上依次對參比標準和樣品進行測量，對測試結果進行比較，計算出樣品的反射因數(shù)（或透射比）。各個波長上比較當然很麻煩。一般是先將參比標準在整個波長范圍內(nèi)測試，將測試結果保持。然后以樣品代替標準作同樣測量，再計算結果。單光束儀器的優(yōu)點是能夠保證參比標準和待測樣品在*相同的光路和電氣條件下進行測量；缺點是必須保證在標準和樣品（有時連續(xù)測多個樣品）整個測試時間內(nèi)儀器保持穩(wěn)定。對于這種要求，現(xiàn)代的電子器件和技術、穩(wěn)壓好的恒定光源還是可以達到的，能滿足一般使用。但儀器應充分預熱以達到穩(wěn)定。有的廠家常用一個光電器件監(jiān)測光源總能量的變化，這稱作準（假）雙光束方式。它只能一定程度上校正光源變化產(chǎn)生的誤差；因為光能變化較大時，還會引起光源光譜功率分布的變化，各個波長上光能的變化并不一定按同一比例增減。當然也不能校正電氣部分的漂移。
雙光束儀器
常見的雙光束儀器有兩種安排
1儀器的光度系統(tǒng)分成兩條光路，一條測試光路，一條參比光路。在參比窗口上放置一參照物；測試窗口則先后放置參比標準和待測樣品。兩光束在分別經(jīng)過參照物和參比標準（或待測樣品）后，合在一起，以很短的時間間隔被同一探測器交替接收，完成兩路信號的采集。
參比標準和待測樣品必須放在同一條光路內(nèi)進行測試，這是因為兩條光路很難做到*對稱，效率相同。只有在同一條光路內(nèi)，探測器輸出的信號大小才只決定于被測物體的反射因數(shù)（或投射因數(shù)），這樣，就可以由參比標準、待測樣品的響應值和參比標準的反射因數(shù)（或投射因數(shù)）的數(shù)據(jù)算出待測樣品的反射因數(shù)。

參比光路和參照物的作用是，監(jiān)測參比標準和待測樣品測量過程中光源能量波動和電氣部分的漂移，計算機將兩次測量中的變化情況逐個記錄，在zui后計算時予以校正。這就是與單光束儀器本質上不同的地方。

有人企圖將參比標準和待測樣品分別放在參比光路和測試光路內(nèi)，一次測量完成工作，這種簡單作法是不可用的。但是如果事先對兩光路的不平衡性，進行測試，并予以記錄，而且儀器又很穩(wěn)定，zui后對這種不平衡性進行校正，還是可以的。事實上有的儀器也用了這種方法。
這種雙光束儀器，因為是用的同一套電氣系統(tǒng)，兩光路測試相隔時間極短，所以它既能校正光源的波動，又能校正電氣漂移帶來的誤差。

用陣列接收器件的分光光度計中，很難用同一探測器來接收參比光路和測試光路分別送來的信號。因此，兩條光路各自有自己的探測器。事實上，這類儀器可做成幾乎*相同的兩套測試系統(tǒng)，一套對樣品和參比標準進行測試，同前面說的一樣；另一套系統(tǒng)對光源（或照明光束）進行測試。監(jiān)視在參比標準和待測樣品測試過程中，照明光源光譜功率變化的情況，并進行記錄。計算時校正光源變化的影響。因為電器系統(tǒng)兩套，所以這種雙光路不能校正電氣部分漂移造成的誤差。而光源的能量變化可得到很好的校正，即使用閃光燈也沒有問題。就電氣部分的漂移而言，如前所說，現(xiàn)代的電子器件的技術是可以滿足使用要求的。