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紫外— 可見分光光度計在工農(nóng)業(yè)各個部門和科學研究的各個領(lǐng)域廣泛使用 ,成為人們從事 生產(chǎn)和科研的有力測試手段 ,紫外分光光度計選擇性好評、靈敏度高、準確度高、適用范圍廣 ,分析成本 低、操作簡便快速 ,分光光度計成為分析人員有用的工具之一。 那么在使用分光光度計的過程中對各 項性能指標逐項進行檢查、校正 ,以保證其較高的精密度和準確度分析要求顯得至關(guān)重要。 

對于分析工作者 ,要懂得儀器的日常維護和對 主要技術(shù)指標的簡易測試方法 ,要經(jīng)常對儀器各項 性能指標逐項進行檢查、校正 ,進行維護和測試 ,以 保證儀器工作在狀態(tài)。 下面介紹紫外— 可見分 光光度計的主要性能指標及其測試方法。

1 波長校正 由于波長誤差可以使定量分析造成誤差 ,可以 使定性分析或結(jié)構(gòu)分析判斷錯誤 ,以致于得出錯誤 結(jié)論 ,所以 ,在儀器安裝完畢后要進行波長檢查 ,在 使用一般時間后也要進行檢查和校正 ,保證儀器的 大靈敏度。波長的測試有粗測和細測 ,粗測方法是 調(diào)儀器波長旋紐至 580nm處 ,打開遮光板 ,在比色 槽中光路經(jīng)過處放一白紙條 ,觀察是否有均勻的黃 光。細測方法常用譜釹濾光片校正法 ,可用鐠釹濾光 片在 529nm± 1～ 2nm處有較好的吸收峰。 在校正 時 ,將儀器按要求預(yù)熱 ,波長度盤置 580nm處 , T% 調(diào)至大 ,在比色杯處放一白紙條 ,觀察是否有光強 均勻、邊緣無光暈或雜光的光斑 ,如不符合要求 ,可 調(diào)節(jié)燈泡位置使其符合要求 ,是為波長校正的粗調(diào)。 再把 靈敏度置于 “ 1” (低檔 ) , 波長度 盤對準 529nm,電表機械零點為零 ,在光路空白時調(diào) T%為 100% T,并反復(fù)查零點和 100% T穩(wěn)定情況。將譜釹 濾光片插入光路 ,慢慢旋轉(zhuǎn)波長度盤 ,找到透光率 低的一點 ,這一點即為波長 529nm。檢查波長度盤的 指示值是不是 529nm,超出規(guī)定 (± 1nm)必須進行 調(diào)整。

2 雜散光檢查 雜散光是由于光學元件制造誤差以及光學和機 械零件表面的漫反射形成的。在吸光度測定中 ,雜散 光是分析樣品的非吸收光 ,隨著樣品濃度的增加 ,雜 散光的影響也隨之增大 ,將給分析結(jié)果帶來一定的 誤差。因此 ,雜散光的大小也是儀器性能的一項重要 指標。 雜光的來源有: ①儀器本身的原因 ,如單色器的設(shè)計、光源的光譜分布、光學原件的老化程度、波 帶寬度以及儀器內(nèi)部的反射及散射等;②室內(nèi)光線 過強而漏入儀器 ,儀器暗室蓋不嚴;③樣品本身的原 因 ,如樣品有無熒光、樣品的散射能力強弱等。 鐠釹 濾光片在 585nm處吸光度 A大 ,透光率 T小 ,所 產(chǎn)生的透光與雜光成正比 ,因此可用其透光率表示 雜光的大小。先用譜釹濾片校正波長 ,然后用黑紙片 擋住比色杯光路之后調(diào)整 0% T,再用空氣做空白調(diào) 100% T。插入譜釹濾光片 ,在 585nm處測定 ,其測定 值為雜光水平。

3 線性檢查 儀器的光度線性范圍 ,也就是儀器工作范 圍 ,在此線性范圍內(nèi)測得的物質(zhì)的吸光系數(shù)是一個 常數(shù) ,光度線性范圍的檢查法是將物質(zhì) (例如重鉻酸 鉀等 )配成一系列不同濃度 ,測定吸光度 ,根據(jù)測得 的吸光度計算吸光系數(shù)— 吸光度曲線 ,曲線上的平 坦區(qū)域即為儀器的線性范圍。

4 比色皿的配對 比色皿一般由玻璃、石英或熒石制成 ,光徑 1. 0 或 0. 5cm,光線通過時有一部分光為空氣與玻璃接 觸面的反射而損失 ( 4% ) ,另一部分 (很少 )為玻璃吸 收 ,在使用之前 ,要進行質(zhì)量檢查進行配對 ,通常 Tmax%～ Tmin% ≤ 0. 5%為合格比色皿配套。 方法是: ①選取幾支大小、材質(zhì)、色澤相同的比 色皿 ,洗凈 ,裝入占比色皿體積 2 /3 的蒸餾水 ( D. W. ) ,擦干 ,放入比色槽。②在 585nm處 ,調(diào)第 1支比 色皿透光度為 100% T,依次測出其他幾支比色皿的 T% 。 不合格的需反復(fù)剔除值 ,或重新配對 ,直 至有 2個以上的比色皿合格。

5 分辨率的檢查 分光光度計的分辨率是指儀器對于緊密相鄰的 峰 (吸收或發(fā)射 )可分辨的小波長間隔 ,是衡量分 光光度計性能的重要指標之一 ,它是分光光度計質(zhì)量的綜合反映 ,單色器輸出的單色的光譜純度 ,強度 以及檢測器的光譜靈敏度等是影響儀器分辨率的主 要因素。分辨率低有時會使相鄰兩峰不能分開 ,使定 性分析或結(jié)構(gòu)測定造成錯誤 ,分光光度法的定量分 析的基礎(chǔ)是比耳定律 ,嚴格來說 ,吸光度與濃度成線 性關(guān)系只能對單色光而言 ,單色性差就會使定量分 析結(jié)果產(chǎn)生誤差 ,對于雙光束紫外及可見分光光度 計在 260nm處 ,儀器應(yīng)能分辨波長間隔為 0. 3nm的 二條譜線 ,其檢查方法是: 將儀器量程放在 0～ 100% 檔;將 1～ 2滴苯液滴入 1cm石英吸收池中 ,蓋上蓋 子 ,放入樣品室內(nèi);調(diào)節(jié) 100% T旋鈕 ,使 270nm處的 透射率調(diào)到 90～ 100% 之間 ,然后掃描 258. 9nm的 一組苯蒸氣吸收峰;在記錄紙上觀察 258. 9nm的分 辨深度 ,如果 A值大于 8% ,說明儀器分辨率優(yōu)于 0. 3nm。 6 重復(fù)性檢查 在同樣條件下對某一試樣進行多次重復(fù)測量吸 光度 ,求得各次測量值對平均值的偏差和偏差的平 均值。

7 靈敏度檢查 將重鉻酸鉀液配制成 30和 32. 5mg鉻 /L及 120 和 122. 5mg /L鉻的 4種應(yīng)用液 (濃度差兩組各為 2. 5mg /L鉻 ) 波長 440nm,以水校零點 ,將上述應(yīng)用 液連續(xù)測 3次吸光度 ,兩組 2. 5mg /L鉻濃度差的吸 光度值差都不小于 0. 01為合格。 8 基線的平直性 是指不放置樣品時 ,掃描 T為 100%線和 T為 0 時 ,基線傾斜或彎曲的程度。 如果基線的平直性差 , 就會使樣品的吸收光譜中各吸收峰之間的比值發(fā)生 變化 ,給定性分析造成錯誤。導(dǎo)致基線不平直的主要 原因是儀器的光學系統(tǒng)失調(diào) ,兩光束不平衡。如儀器 受震 ,光源位置變動等都會引起光學系統(tǒng)故障。