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引言 

7230G可見分光光度計是新一代帶微機電腦的 智能化可見分光光度計，具有較強的控制功能和數(shù) 據(jù)處理能力，并配有打印輸出。適用于在可見光譜 區(qū)范圍內(nèi)的各種物質(zhì)進行定量分析。廣泛應(yīng)用于醫(yī) 療衛(wèi)生、臨床檢驗、生物化學(xué)、石油化工、環(huán)境保護、 質(zhì)量控制及大專院校教學(xué)實驗等部門。本文對 7230G可見分光光度計儀器原理以及常見的故障維 修進行探討與分析。 2 儀器原理、結(jié)構(gòu)及光學(xué)系統(tǒng) 7230G可見分光光度計的測量原理：利用物質(zhì) 在光的照射激發(fā)下，物質(zhì)中的原子和分子所含的能 量以多種方法與光相互作用而產(chǎn)生對光的吸收效 應(yīng)。由于物質(zhì)對光具有選擇性，各種不同的物質(zhì)都 有其各自的吸收光譜，用其特性來對物質(zhì)進行定性 和定量分析。因此當(dāng)某單色光入射溶液時，其能量 就會被吸收而減弱。當(dāng)入射光、吸光系數(shù)和溶液的 光程長度不變時，透過光是根據(jù)溶液的濃度而變化 的。通過測定吸光度即可得出被測溶液的濃度。儀 器內(nèi)計算機根據(jù)朗伯—比耳定律設(shè)有一個線性回 歸方程A＝MC＋N計算程序，只要輸入標準試樣濃度 值或線性回歸方程中的M和N，便能直接測定被測試 樣的濃度值。 7230G可見分光光度計的電子線路結(jié)構(gòu)：采用INTEL公司MCS-51系列單片機中的89C52微處理 器。89C52微處理器內(nèi)置8位中央處理單元、256字節(jié) 內(nèi)部數(shù)據(jù)存儲器RAM、 8k片內(nèi)程序存儲器（ROM）32 個雙向輸入/輸出（I/O）口、 3個16位定時/計數(shù)器和5 個兩級中斷結(jié)構(gòu)，一個全雙工串行通信口，片內(nèi)時 鐘振蕩電路。模數(shù)轉(zhuǎn)換器（A/D）為14433，接口（I/O） 采用8155。單色光透過被測溶液后由光電池接收并 轉(zhuǎn)換為電信號PD，經(jīng)IC3前置放大器放大。由于在 300nm~900nm之間基準信號不一，單片微型計算機 根據(jù)不同的基準信號，向IC2D/A轉(zhuǎn)換器發(fā)出指令，從 而改變IC1的放大倍數(shù)，一直到基準信號達到單片微 型計算機中的程序要求。信號進入A/D轉(zhuǎn)換器，A/D 轉(zhuǎn)換器將前置放大器放大的模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字 信號送往單片機進行數(shù)據(jù)處理，見圖1。 7230G可見分光光度計的光學(xué)系統(tǒng)：采用溴鎢 燈作為光源。光源W發(fā)出連續(xù)輻射光束，射到球面鏡 M1上，經(jīng)M1的反射，光束通過濾光片F(xiàn)濾去次級光 譜進到光狹縫S1，然后進入單色器，在單色器中光 束經(jīng)過平面鏡M2的反射，光束改變方向投射到準直 鏡M3上，經(jīng)M3的反射光束成為平行光投射到平面 光柵G上，經(jīng)平面光柵G的色散，色散的光束投射到 準直鏡M4上，經(jīng)M4的聚焦，色散光聚焦通過出射狹 縫S2出單色器成為單色光，單色光通過透鏡T以使 光束集中通過樣品池中的樣品，后照射到光電池 PD上，見圖2。

3 故障與維修 例1、測量時無單色光或光斑不完整 檢查：檢查溴鎢燈正常，光源通過單色器后，無 法出射單色光或出現(xiàn)光斑不均勻、不完整的現(xiàn)象。 操作：這時，把波長調(diào)到放在580nm處，在出光 孔處放一紙卡片以便觀察，重新調(diào)整光源燈燈絲位 置，同時在紙卡片處觀察光斑形狀，使其為黃色且光斑完整。如不好，可松開光源燈與底板緊固螺 絲，使其前后左右移動，觀察使光斑時固緊底 板螺絲。 例2、溴鎢燈更換后，雖亮但無出射光 分析：每一個溴鎢燈的燈絲位置都略有不同， 其燈絲的位置直接影響儀器光線的走向。 操作：首先用白紙放到單色器進光孔處觀察是 否有一長方型光斑，如果光斑不能正中進入光孔，先調(diào)整光 源燈座上的三顆螺母改變溴鎢燈的位置，使光 斑正中射入光孔?；蛴冒准堅谇蛎娣瓷溏R前面向單 色器入射孔方向隨光斑移動，檢查單色器入口處應(yīng) 有光亮進入，如果沒有，可調(diào)節(jié)球面反射鏡背后的 左右兩個螺母位置使光亮進入，使光斑在580nm處 為黃色且光斑完整。 例3、光斑大小不均勻且模糊散光及讀數(shù)不穩(wěn) 定 分析：儀器使用一段時間后，因各種因素導(dǎo)致 光路焦距微位移。 操作：在樣品池光路中放白紙片，松開燈座后 方的兩顆固定螺絲前后緩慢移動燈座，觀察白紙上 光斑的變化，當(dāng)投射到白紙上的光斑大小均勻，清 晰看到溴鎢燈燈絲即可把松開的固定螺絲固緊。 例4、儀器的雜散光偏高 分析：雜散光是可見分光光度計的重要指標， 國家標準對分光光度計的雜散光明確規(guī)定，7230G光柵型分光光度的雜散光： B段360nm≤0.5%、 420nm≤1.0%。雜散光指遠離吸收光的其它波長的 入射光。是光學(xué)系統(tǒng)中非正常傳輸光的總稱。產(chǎn)生 于漏光，透射光學(xué)元件表面的殘余反射，從光學(xué)元 件表面以及大氣中的灰塵，以及由于光學(xué)元件表面 質(zhì)量問題都會產(chǎn)生雜散光。雜散光的存在會對朗 伯－比耳定律產(chǎn)生偏移，從而產(chǎn)生測量數(shù)據(jù)的不準 確。 操作：對于光學(xué)元件的灰塵可用鏡頭紙或棉簽 蘸*擦拭。光學(xué)元件表面的霉菌可用鏡頭紙 或棉簽蘸蒸餾水擦拭，并用凈風(fēng)吹干。而光學(xué)元件 損壞只有更換。對于漏光，可用黑布遮住儀器，測試 光電池、暗盒等部分，找到漏光處加以排除。 例5、儀器的讀數(shù)不準 分析：前置放大線路是把光電轉(zhuǎn)換成的信號按 比例放大，但由于電子器件的原因，儀器在使用一 段時間后，參數(shù)會有一定的變化導(dǎo)致儀器的讀數(shù)不 準。

操作：當(dāng)儀器的讀數(shù)不準時，可在前置放大線 路中調(diào)節(jié)W1電位器。如果儀器光源足夠亮，按100% 鍵不能達到滿度，可調(diào)節(jié)W2電位器，在調(diào)節(jié)W2時用 不漏光的物體遮蓋測試槽，用萬用表測試電路板上 的CK3測試點電壓，測試點電壓為1000mV（如圖3）。 例6、儀器顯示E1 檢查：當(dāng)儀器合上樣品池蓋儀器顯示E1。檢查 樣品槽光路及樣品槽蓋正常。用手人為地打開儀器 光門，儀器顯示依然為E1。用萬用表測試電路板上 的CK3測試點電壓，測試點電壓為零伏。測量IC3輸 出端信號，無論打開或關(guān)閉儀器光門都沒有變化， 而人為在IC3輸入段加入信號，CK3測試點上有輸出 信號變化，證明放大電路是正常的，檢查光電轉(zhuǎn)換器也能正常光電轉(zhuǎn)換，證明故障出在連接線上而不 是器件故障。通過線路測量：故障出在光電轉(zhuǎn)換器 連線與線路板的焊接點上，因虛焊而致使信號連接 不上。 操作：把檢查到的連接虛焊點重新焊接牢固， 儀器故障排除。筆者在后續(xù)的儀器維修工作中， 7230G可見分光光度計這種型號儀器都在同一點上 出現(xiàn)虛焊，需引起同行的注意。